[发明专利]用于进行样品分析的装置及方法无效
申请号: | 03122990.5 | 申请日: | 1995-09-15 |
公开(公告)号: | CN1530642A | 公开(公告)日: | 2004-09-22 |
发明(设计)人: | 约翰·弗朗西斯·戈登 | 申请(专利权)人: | 伯斯坦技术公司 |
主分类号: | G01N21/25 | 分类号: | G01N21/25;G01N21/33;G01N21/35;G01N33/53;G01N33/543 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人: | 朱进桂 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 一种用于进行生物、化学或生化样品的光学检测的系统,样品由光学透明的圆盘支撑,应用已在声频和视频压缩盘领域中发展起来了的技术扫描表面。圆盘(44)被固定并绕其中心轴旋转,同时一光源(37)和探测器(38)被固定在一支架36上,并在一通过盘表面的弧线内旋转源(37),其被设置在盘(44)上方且探测器(38)置于盘下方并使两光轴被校直以使圆盘(44)的全部使用的表面可被光源和探测器扫描。圆盘(44)提供一个校准标记(49),其当光束通过它时会阻断光线通道,从而保证扫描相对圆盘被校直。被支撑在基片上的样品的光学性质可通过分析光探测器(38)的输出被自动快速地检测。 | ||
搜索关键词: | 用于 进行 样品 分析 装置 方法 | ||
【主权项】:
1.一种进行生物学的、化学的、或生物化学的样品光学检验的方法,其特征在于它包括步骤:在基片上的表面位置承放至少一种样品;将射线源的一电磁辐射射线束引射到基片上;通过绕基本上与基片垂直的轴旋转基片和在对所述轴的径向分量的方向上移动射线源,使射线束扫描整个基片;及检测自基片和样品反射和/或穿过它们透射的射线,并从检测到的辐射中给出一输出信号,该检测到的辐射与入射射线束当前扫描的所述表面位置的光学检测的样品相对应;通过设置在基片表面位置上的分布电磁射线调制装置,调制至少一部分所述射线束;以及在扫描整个基片的步骤期间,分析来自所述检测到的辐射的所述输出信号,以提取由所述射线束当前扫描的所述表面位置的数字位置地址信息。
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