[发明专利]投影曝光装置、位置对准装置以及位置对准方法有效
申请号: | 03123736.3 | 申请日: | 2003-05-20 |
公开(公告)号: | CN1278190C | 公开(公告)日: | 2006-10-04 |
发明(设计)人: | 平林洋一;松本德嘉 | 申请(专利权)人: | 株式会社阿迪泰克工程 |
主分类号: | G03F9/00 | 分类号: | G03F9/00;G03F7/20 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人: | 李辉 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 暂无信息 | 说明书: | 暂无信息 |
摘要: | 一种可进行精确位置对准的投影曝光装置。印刷电路板76置于移动平台70上的状态下,由紫外线照明装置6的紫外线光源60照射掩模标记90时,掩模标记90的像通过投影曝光透镜71与半反射镜11,以紫外线反射面镜10反射,再通过分光器34与成像透镜32,成像于CCD30上,并由图像识别装置2对其中心坐标做计测。其次,由红外线照明装置5的红外线光源50照射印刷电路板标记91,标记91的像通过紫外线反射面镜10、半反射镜11、分光器34、反射镜43、成像透镜42以及分光器52,成像于CCD40上。对应于紫外线用的CCD30上的掩模标记90的中心坐标,使红外线用CCD40上的印刷电路板标记91的中心坐标吻合,控制移动机构81,使移动平台70在XY及θ方向旋转移动而做位置对准。 | ||
搜索关键词: | 投影 曝光 装置 位置 对准 以及 方法 | ||
【主权项】:
1.一种投影曝光装置,包括:掩模(75),描绘有电路图案;平台(70),支持对该掩模(75)的图案做曝光之曝光对象(76);位置对准装置(81),用于通过移动所述掩模(75)或平台(70)、或者二者来调整所述掩模(75)和所述曝光对象(76)之间的位置关系;光学投影系统(71),利用曝光波长将该掩模(75)之图案相对于曝光对象(76)予以放大/缩小的曝光;掩模标记(90),设于所述掩模(75)上,用于位置对准;曝光对象标记(91),设于所述曝光对象(76)上,用于位置对准;掩模标记光源(60),用和曝光波长相同的波长的光照射所述掩模标记(90);对象标记光源(50),用与曝光波长相异的第二波长的光照射所述对象标记(91);曝光波长反射体(10),设于该光学投影系统(71)与该曝光对象(76)之间,并反射与该曝光波长同一波长的光,且使与曝光波长相异的第二波长光透过;掩模标记摄影装置(3),通过该曝光波长反射体(10)所反射的光对该掩模标记(90)进行摄影;对象标记摄影装置(4),对由穿透该曝光波长反射体(10)的该第二波长的光所照射的对象标记(91)进行摄影;以及控制装置(80),根据该被摄影之掩模标记(90)和对象标记(91),通过控制该位置对准装置(81)把该掩模(75)与曝光对象(76)对准。
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