[发明专利]基于以理想周期信号得到的取样数据串来测量抖动的电路无效
| 申请号： | 03123802.5 | 申请日： | 2003-05-12 |
| 公开（公告）号： | CN1479104A | 公开（公告）日： | 2004-03-03 |
| 发明（设计）人： | 花井寿佳;船仓辉彦;森长也 | 申请（专利权）人： | 三菱电机株式会社;菱电半导体系统工程株式会社 |
| 主分类号： | G01R29/02 | 分类号： | G01R29/02 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 杨凯;王忠忠 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 抖动测量电路(10、11)中设有：通过响应另一方而对所述基准信号和从测量对象输出的周期性被测信号中的一方取样来得到取样数据串的变换部(2)；以及基于从所述变换部得到的所述取样数据串，测量所述被测信号的抖动的判定部(4)。由于基准信号是预定的周期稳定的信号，所以，作为测量结果的取样数据串依存于被测信号。根据测量结果的偏移并基于对预期值数据的相对测定，可以简易地测量抖动电平。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 理想 周期 信号 得到 取样 数据 测量 抖动 电路 | ||
【主权项】：
1.一种抖动测量电路，其中设有：生成具有预定周期的周期性基准信号的基准信号发生部；通过响应其中另一方而对所述基准信号和从测量对象输出的周期性的被测信号中的一方取样来得到取样数据串的变换部；以及基于从所述变换部得到的所述取样数据串，测量所述被测信号的抖动的判定部。
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