[发明专利]机台测试卡关方法无效
| 申请号： | 03124391.6 | 申请日： | 2003-05-06 |
| 公开（公告）号： | CN1549122A | 公开（公告）日： | 2004-11-24 |
| 发明（设计）人： | 苏志扬 | 申请（专利权）人： | 纬创资通股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22;G06K7/10 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所 | 代理人： | 任永武 |
| 地址： | 台湾省台北县221*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 一种机台测试卡关方法，于待测机台中产生一组密码，对待测机台进行元件测试，并判断待测机台是否有任何一元件功能异常，若有任一元件异常时，将待测机台退回修改，并重复元件测试步骤，直到待测机台经测试各元件正常后，于荧幕上显示对应此密码的电子式条码，再利用电荷耦合器(CCD)式条码扫瞄器读取电子式条码与密码作比对，以进行卡关动作。 | ||
| 搜索关键词： | 机台 测试 方法 | ||
【主权项】：
1.一种机台测试卡关方法，用以测试一待测机台，并进行一卡关动作，该待测机台包括一萤幕，其特征在于，该机台测试卡关方法包括：于该待测机台中产生一密码；对该待测机台进行元件测试；判断是否有任何一元件功能异常，若有任一元件异常时，将该待测机台退回修改，并继续对该待测机台进行元件测试的该步骤；于该萤幕上显示对应此密码的一电子式条码；以及利用一电荷耦合器式条码扫瞄器，读取该电子式条码并与该密码进行比对，以进行该卡关动作。
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