[发明专利]利用频域法进行差分测量的精确重构方法无效

专利信息
申请号: 03124600.1 申请日: 2003-06-30
公开(公告)号: CN1477370A 公开(公告)日: 2004-02-25
发明(设计)人: 李圣怡;尹自强;戴一帆;王宪平;郑子文 申请(专利权)人: 中国人民解放军国防科学技术大学
主分类号: G01B7/28 分类号: G01B7/28;G01B11/26
代理公司: 湖南兆弘专利事务所 代理人: 傅俏梅
地址: 410073湖南省长沙市*** 国省代码: 湖南;43
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摘要: 利用频域法进行差分测量的精确重构方法,其特征在于它是根据被测对象的两个不同间距或剪切量测得的差分值,将两组差分值进行周期延拓,再通过傅立叶正反变换,得到两条初始评价曲线,然后计算调零误差与对应的传感器间距或剪切量之比的差值,综合两条初始评价曲线并消除调零误差的影响,得到被测参数的评价曲线,再去掉评价曲线中的线性趋势,最后得到一条无理论误差的精确评价曲线,从而实现被测参数的精确重构。本发明不需任何“先验”知识,就能无理论误差地精确重构出一般情况下被测参数,适用于采样间隔不等于传感器间距或剪切量、被测件尺寸不等于传感器间距或剪切量的整数倍、被测参数为周期、非周期、光滑和非光滑等情况。
搜索关键词: 利用 频域法 进行 测量 精确 方法
【主权项】:
1、一种利用频域法进行差分测量的精确重构方法,其特征在于它是根据被测对象上两个不同间距或剪切量测得的差分值,将两组差分值进行周期延拓,再通过傅立叶正反变换,得到两条初始评价曲线,然后计算调零误差与对应的传感器间距或剪切量之比的差值,综合这两条初始评价曲线并消除调零误差的影响,得到被测参数的评价曲线,再去掉评价曲线中的线性趋势,最后得到一条无理论误差的精确评价曲线,从而实现被测参数的精确重构。
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