[发明专利]基于电路静态时延特性的冒险检测和消除方法有效
申请号: | 03125127.7 | 申请日: | 2003-05-21 |
公开(公告)号: | CN1450617A | 公开(公告)日: | 2003-10-22 |
发明(设计)人: | 刘国华;闵应骅;李晓维 | 申请(专利权)人: | 中国科学院计算技术研究所 |
主分类号: | H01L21/66 | 分类号: | H01L21/66;G01R31/28;H01L21/82 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人: | 周国城 |
地址: | 100080 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明涉及检测和消除集成电路中产生冒险的方法。包括:电路静态时延特性的冒险检测和消除方法。通过适当调整电路中部分路径的长度来消除或减少冒险。当只有一个原始输入发生跳变时,如果两条延时不同的路径在电路某点汇聚,并且这两条路径上具有反相功能的门(与非门,或非门,非门)的数目奇偶性不同,则在该点可能产生冒险;当多个原始输入同时发生跳变时,只要汇聚的路径延时不同则认为在汇聚点可能产生冒险。对于单原始输入跳变导致的冒险我们通过有选择的增加一些门的延迟来消除或者减少。对于多个原始输入跳变导致的冒险我们通过增加一定数量的逻辑门使跳变在电路中同步传播来消除或减少冒险。 | ||
搜索关键词: | 基于 电路 静态 特性 冒险 检测 消除 方法 | ||
【主权项】:
1.基于电路静态时延特性的冒险检测方法,考虑电路的时延特性来判断电路可能产生冒险的点,其特征在于从电路的原始输入到原始输出逐一标记电路元素,将从原始输入到该电路元素的路径时延信息记录在该元素的路径序列中,然后根据这些信息判断电路某点产生冒险的可能性。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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