[发明专利]被检测体用取样元件、被检测体处理装置及其处理方法无效

专利信息
申请号: 03127288.6 申请日: 2003-09-30
公开(公告)号: CN1497255A 公开(公告)日: 2004-05-19
发明(设计)人: 北胁文久;河村达朗 申请(专利权)人: 松下电器产业株式会社
主分类号: G01N33/53 分类号: G01N33/53;G01N33/543;G01N33/68;G01N33/66;G01N33/72;G01N21/25;G01N21/47;G01N21/64
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 钟守期;孟凡宏
地址: 日本大阪*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供在实施被检测体的检查过程中,简化特别多采用手工作业进行的,被检测体的获取、被检测体的处理、向测定(反应)系统实施被检测体的导入和被检测体的稀释等的所有预处理工序,从而提高使用大型自动化装置和床边检测(POCT)适用装置的检查可操作性的技术。本发明的取样元件的特征在于具有可对被检测体定量取样获得并实施暂时保持用的第一区域,以及为使第一区域运动而承受由外部施加的力学作用的第二区域。
搜索关键词: 检测 体用 取样 元件 处理 装置 及其 方法
【主权项】:
1.被检测体用取样元件,其特征在于具有可对被检测体定量取样获得并实施暂时保持用的第一区域,以及为使第一区域运动而承受由外部施加的力学作用的第二区域。
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