[发明专利]用于减轻辐射所引起软错误的影响的方法和系统有效
| 申请号： | 03127405.6 | 申请日： | 2003-08-06 |
| 公开（公告）号： | CN1480841A | 公开（公告）日： | 2004-03-10 |
| 发明（设计）人： | 肯尼斯·P·罗德贝尔;汉瑞·H·K·唐;罗伯特·M·特瑞普;黄志宽 | 申请（专利权）人： | 国际商业机器公司 |
| 主分类号： | G06F11/00 | 分类号： | G06F11/00;G06F17/30;G06F17/00;G06F9/44 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 付建军 |
| 地址： | 美国*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 一种用于在包括集成电路的数据处理器中减轻辐射所引起软错误的影响的方法和系统。该方法包括如下步骤：确定数据处理器的位置，确定该位置的一组辐射源及其强度，以及将数据处理器的软错误率作为所确定的辐射强度和所述集成电路的几何特性的函数进行估算，以提供估算值。当估算值超过预定值的时候，根据估算值修改数据处理器(硬件或软件)。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 减轻 辐射 引起 错误 影响 方法 系统 | ||
【主权项】：
1.一种在包括集成电路的数据处理器中减轻辐射所引起软错误的影响的方法，所述方法包括如下步骤：确定所述数据处理器的位置；确定所述位置的一组辐射源及其强度；将所述数据处理器的软错误率作为所确定的辐射强度和所述集成电路的几何特性的函数进行估算，以提供估算值；以及当所述估算值超过预定值的时候，根据所述估算值修改所述数据处理器。
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