[发明专利]大规模集成电路检查装置及其方法无效
| 申请号： | 03127857.4 | 申请日： | 2003-08-12 |
| 公开（公告）号： | CN1521512A | 公开（公告）日： | 2004-08-18 |
| 发明（设计）人： | 伊藤亘;金光朋彦;山下武;渡边昭彦 | 申请（专利权）人： | 松下电器产业株式会社 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R31/26 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人： | 汪惠民 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 一种LSI检查装置，是将LSI测试仪输出的试验信号向检查对象LSI供给、上述检查对象LSI根据上述试验信号进行处理、将所产生的试验结果信号向上述LSI测试仪输出的LSI检查装置，上述LSI检查装置包括与上述检查对象LSI连接的、进行和上述检查对象LSI实际使用时相同的动作的周边电路、和装入了上述周边电路的印刷电路板。 | ||
| 搜索关键词： | 大规模集成电路 检查 装置 及其 方法 | ||
【主权项】：
1.一种LSI检查装置，是将LSI测试仪输出的试验信号向检查对象LSI供给、所述检查对象LSI根据所述试验信号进行处理、将所产生的试验结果信号向所述LSI测试仪输出的LSI检查装置，其特征是所述LSI检查装置包括与所述检查对象LSI连接的、进行和所述检查对象LSI实际使用时相同的动作的周边电路、和装入了所述周边电路的印刷电路板。
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