[发明专利]以THz波为光源的红外热波检测系统无效
申请号: | 03128761.1 | 申请日: | 2003-05-23 |
公开(公告)号: | CN1548943A | 公开(公告)日: | 2004-11-24 |
发明(设计)人: | 张存林;金万平 | 申请(专利权)人: | 首都师范大学;北京维泰凯信新技术有限公司 |
主分类号: | G01N21/17 | 分类号: | G01N21/17;G01N25/72 |
代理公司: | 北京纪凯知识产权代理有限公司 | 代理人: | 魏永金 |
地址: | 100037北京市海淀区*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明涉及一种新的热波检测系统,它采用THz波作为热源对物体进行加热,并使用热成像仪监测试件表面温度场的变化和这种变化的出现与所施加的THz波热源在位相上的关系。其中采用同步或时序控制器来控制THz波的发射和成像仪的检测。利用计算机对所获得的数据进行热波传输计算处理和数据拟合,从得到的温度场变化信息获得材料内部缺陷和非均匀性信息。 | ||
搜索关键词: | thz 光源 红外 检测 系统 | ||
【主权项】:
1.一种用于勘测物体内各种缺陷的红外热波检测系统,其特征是:所述检测系统由三个分系统组成,THz波光源产生系统、THz波照射加热系统、THz波成像系统,各分系统通过光路实现协同工作。
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