[发明专利]一种交流采样计算的新方法和基于此方法的“真有效值”采样集成电路无效

专利信息
申请号: 03129413.8 申请日: 2003-06-19
公开(公告)号: CN1566965A 公开(公告)日: 2005-01-19
发明(设计)人: 张若愚 申请(专利权)人: 张若愚
主分类号: G01R19/02 分类号: G01R19/02;G01R19/25;G06F17/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 200235上海市*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 对交流电量的测量,早期普遍采用直流采样,在交流采样法中,有一种计算所谓“真有效值的”的交流采样法,该方法的实质在于通过把交流周期信号离散成若干点值,再通过离散积分计算其均方根值(RMS)或“真有效值”。计算均方根值,需要耗费大量时间。理论和实际应用证明,本发明方法较之现有方法可提高速度数千倍。本发明是一种交流采样计算的新方法,并且根据这种方法可以制造出一种新型的“真有效值”(RMS)转换器件。该方法是一种借助高级计算机(如PC机)完成采样结果的数值处理,而单片微处理器或微控制器(MCU)只作数值地址的索引查找,或只作量值比较判断的计算方法。
搜索关键词: 一种 交流 采样 计算 新方法 基于 方法 有效值 集成电路
【主权项】:
1、一种交流采样计算的新方法和基于此方法的“真有效值”采样集成电路,其特征在于,本方法是一种借助高级计算机(如个人计算机,PC)完成采样结果的数值处理,而单片微处理器或微控制器只作数值地址的索引查找,或只作量值比较判断的计算方法。
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