[发明专利]冻干过程中的压力测温方法无效
| 申请号： | 03129506.1 | 申请日： | 2003-06-26 |
| 公开（公告）号： | CN1470856A | 公开（公告）日： | 2004-01-28 |
| 发明（设计）人： | 苏树强;华泽钊 | 申请（专利权）人： | 上海理工大学;上海俊乐制冷自控元件有限公司 |
| 主分类号： | G01K11/04 | 分类号： | G01K11/04 |
| 代理公司： | 上海申汇专利代理有限公司 | 代理人： | 吴宝根 |
| 地址： | 20009*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种冻干过程中的压力测温方法，本发明的冻干过程中压力测温方法的是基于在平衡状态下，冰晶温度与其饱和蒸汽压为单值函数这一基本规律，在升华干燥过程中，突然中断从冻干室流向冷阱的水蒸汽流，通过测量冻干室内压力回升情况去推算升华界面温度的一种非接触式测温方法。其技术方案包括压力测温方法的数学模型、数据回归方法、冻干系统装置设计。本发明的优点是对移动的升华界面的温度状况较为正确、快速的检测，不需要人在每批生产中对它定位、校准。 | ||
| 搜索关键词： | 过程 中的 压力 测温 方法 | ||
【主权项】：
1.一种冻干过程中的压力测温方法，其特征在于，方法步骤为：(1)快速关闭冻干室与冷阱间的连接通道上装有的中隔阀约0～30s；(2)通过冻干室内装有真空压力传感器测量中隔阀关闭后起冻干室内的压力P；(3)根据P(t)＝PI-(PI-P0)e(-K·t)+F·t其中：P0：中隔阀关闭时冻干室内的压力PI：升华界面上的压力(Pa)P：冻干室内的压力(Pa)K：一个常数，与冻干室、冻干样品的特性尺寸及传质阻力有关F：一个常数，与冻干室的泄漏及样品内传热有关进行一次测量后，可得到若干组(P，t)数据，通过数据采集与处理系统对这些数据进行回归分析，求出方程(1)中的三个未知参数：PI，K，F；(4)利用冰晶的温度和冰晶表面水蒸汽的关系求得升华界面的温度TI：冰晶的温度与冰晶表面水蒸汽的关系式为：
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