[发明专利]微处理器的随机测试方法无效
| 申请号： | 03129511.8 | 申请日： | 2003-06-26 |
| 公开（公告）号： | CN1567209A | 公开（公告）日： | 2005-01-19 |
| 发明（设计）人： | 白宁;徐云秀;印义言 | 申请（专利权）人： | 上海华园微电子技术有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/00 | 分类号： | G06F11/00 |
| 代理公司： | 上海开祺专利代理有限公司 | 代理人： | 李兰英 |
| 地址： | 200233上*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种微处理器的随机测试方法，是通过以下步骤实现的：基于随机数产生N条随机指令(1)；所述的N是正整数；利用N条随机指令对微处理器进行测试(2)；解决了目前测试微处理器过程中效率低、覆盖率低的缺陷，加快了微处理器的开发周期，保证了微处理器可靠性。 | ||
| 搜索关键词： | 微处理器 随机 测试 方法 | ||
【主权项】：
1.一种微处理器的随机测试方法，其特征在于：是通过以下步骤实现的：基于随机数产生N条随机指令(1)；所述的N是正整数；利用N条随机指令对微处理器进行测试(2)。
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