[发明专利]两次曝光全息层析装置及其使用方法无效

专利信息
申请号: 03129607.6 申请日: 2003-06-27
公开(公告)号: CN1475877A 公开(公告)日: 2004-02-18
发明(设计)人: 陈建文;高鸿奕;谢红兰;李儒新;徐至展 申请(专利权)人: 中国科学院上海光学精密机械研究所
主分类号: G03H1/04 分类号: G03H1/04;G03H1/22;G02B27/22
代理公司: 上海新天专利代理有限公司 代理人: 张泽纯
地址: 201800上*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 一种两次曝光全息层析装置及其使用方法,该两次曝光全息层析装置包含He-Ne激光器、扩束望远镜,两块半透半反镜、两块全反镜、旋转工作台、样品、样品室、透镜、接收器CCD和计算机,所述的旋转工作台是能将置于样品室内的样品在0°~180°范围内转动并具有刻度的工作台;所说的He-Ne激光器是一台单横模可见相干光源,所说的扩束望远镜可将He-Ne激光束扩大100倍的光学系统;所说的两块半透半反镜是具有50%反射率和透过率的介质膜镜;所说的全反镜是具有100%反射率的介质膜镜。利用本发明能实时高分辨率重构物体的三维位相信息空间分布,为研究等离子体,高温炉内温度场分布,脉冲灯内放电状况以及各种光学样品的检测提供了一个有力工具。
搜索关键词: 两次 曝光 全息 层析 装置 及其 使用方法
【主权项】:
1、一种两次曝光全息层析装置,其特征在于它包含He-Ne激光器(1)、扩束望远镜(2),半透半反镜(3、4)、全反镜(5、6)、旋转工作台(7)、样品(8)、样品室(9)、透镜(10、11、12)、接收器CCD(13)和计算机(14),所述的旋转工作台(7)是能将置于样品室(9)内的样品(8)在0°~180°范围内转动并具有刻度的工作台;所说的He-Ne激光器(1)是一台单横模可见相干光源,所说的扩束望远镜(2)可将He-Ne激光束扩大100倍的光学系统;所说的半透半反镜(3、4)是具有50%反射率和透过率的介质膜镜;所说的全反镜(5、6)是具有100%反射率的介质膜镜。
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