[发明专利]非接触式集成电路卡测试电路及其测试方法无效
| 申请号： | 03129680.7 | 申请日： | 2003-07-04 |
| 公开（公告）号： | CN1567219A | 公开（公告）日： | 2005-01-19 |
| 发明（设计）人： | 陈桂岭;李新满;印义言 | 申请（专利权）人： | 上海华园微电子技术有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/26 | 分类号： | G06F11/26 |
| 代理公司： | 上海开祺专利代理有限公司 | 代理人： | 李兰英 |
| 地址： | 200233上*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种非接触式集成电路卡测试电路及其测试方法，PC机(5)将被测试的逻辑电路经过编程输入到FPGA部分(1)；当PC机(5)上的测试软件给读写器(4)发送指令时，读写器(4)接受PC机(5)的指令并根据指令发出调制信号经天线线圈(3)传给射频接口电路(2)再送给FPGA部分(1)，FPGA部分(1)接受信号并将响应信号传给射频接口电路(2)经天线线圈(3)给读写器(4)再发送给PC机(5)，测试软件捕捉到响应信号后便可以判断测试的正确与否，并作出相应的输出；本发明的有益效果是：能够方便且快捷地对非接触式集成电路卡中的逻辑功能进行测试和验证。 | ||
| 搜索关键词： | 接触 集成 路卡 测试 电路 及其 方法 | ||
【主权项】：
1.一种非接触式集成电路卡测试电路，其特征在于：包括FPGA部分(1)，射频接口电路(2)，天线线圈(3)，读写器(4)，PC机(5)；所述的PC机(5)将被测试的逻辑电路经过编程输入到FPGA部分(1)；当PC机(5)上的测试软件给读写器(4)发送指令时，读写器(4)接受PC机(5)的指令并根据指令发出调制信号，天线线圈(3)将耦合过来的信号传给射频接口电路(2)，射频接口电路(2)经过解调把信号送给FPGA部分(1)，FPGA部分(1)接受信号并会根据信号发出特定的响应信号给射频接口电路(2)，射频接口电路(2)再进行调制，调制后的信号送到天线线圈(3)上，被读写器(4)耦合过来后再发送给PC机(5)，测试软件捕捉到响应信号后便可以判断测试的正确与否，并作出相应的输出。
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