[发明专利]处理方法以及处理装置有效

专利信息
申请号: 03130946.1 申请日: 2003-05-09
公开(公告)号: CN1457083A 公开(公告)日: 2003-11-19
发明(设计)人: 立山清久 申请(专利权)人: 东京毅力科创株式会社
主分类号: H01L21/00 分类号: H01L21/00;G02F1/13
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 张天安,郑建晖
地址: 暂无信息 国省代码: 暂无信息
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摘要: 处理方法以及处理装置,本发明提供一种处理方法和处理装置,准备设定成先处理的基板(G)的处理条件的作为第1处理部的热处理单元(70a~70c),和设定成后处理的基板(G)的处理条件的至少一个作为第2处理部的辅助热处理单元(70s),在将先处理的基板(G)传送到第1处理部中进行处理的期间,将第2处理部设定成后处理的基板(G)的处理条件并使其待机,在第1处理部的处理结束后,在第2处理部中对后处理的基板(G)进行处理,在第2处理部中进行处理的期间,将第1处理部变更成与第2处理部相同的处理条件对被处理的基板(G)进行处理,在第2处理部的处理结束后,将第2处理部变更成进而后处理的基板(G)的处理条件并使其待机,连续地进行多个基板(G)的处理。
搜索关键词: 处理 方法 以及 装置
【主权项】:
1.一种处理方法,其特征是,包括下述工序:(a)将对多个被处理体进行处理的第1处理部的该处理条件设定为第1处理条件的工序,(b)在上述工序(a)之后,在上述第1处理部中以上述第1处理条件对上述被处理体中的第1被处理体进行处理的工序,(c)将对上述被处理体进行处理的第2处理部的该处理条件设定为与上述第1处理条件不同的第2处理条件的工序,(d)在上述工序(c)之后,在上述第2处理部中以上述第2处理条件对上述被处理体中的第2被处理体进行处理的工序,(e)在上述工序(b)之后、并且在上述工序(d)的中途,将上述第1处理部的处理条件变更设定为上述第2处理条件的工序,(f)在上述工序(e)之后,在上述第1处理部中以上述第2处理条件对上述被处理体中的第3被处理体进行处理的工序。
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