[发明专利]减少透镜像差与图案移位的光罩与方法有效
申请号: | 03131305.1 | 申请日: | 2003-05-12 |
公开(公告)号: | CN1549053A | 公开(公告)日: | 2004-11-24 |
发明(设计)人: | 吴元薰 | 申请(专利权)人: | 南亚科技股份有限公司 |
主分类号: | G03F1/08 | 分类号: | G03F1/08;G03F9/00;G03F7/00;H01L21/027 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人: | 王一斌 |
地址: | 台湾省*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 一种可减少透镜像差与图案移位的光罩,包括一透光基底与一遮光层,遮光层设置于透光基底上,具有一数组图案区与复数个辅助图案,辅助图案是设置于数组图案区内且其中各辅助图案与其上、下方的两数组图案等距,并使辅助图案的长度与数组图案的宽度相等。一种可减少透镜像差与图案移位的方法,包括下列步骤:提供一半导体基底,于该半导体基底上覆盖一光阻层,借由一光罩在光阻层中形成图案,各图案与其上、下方的两数组图案等距,并使图案的长度与数组图案的宽度相等,以图案化光阻为罩幕,进行一蚀刻步骤以在该半导体基底中形成一数组沟槽区。依照本发明的光罩与方法,可使数组图案间的关键尺寸获得较佳的一致性,且能有效减少图案移位的现象。 | ||
搜索关键词: | 减少 透镜 图案 移位 方法 | ||
【主权项】:
1.一种可减少透镜像差(lens aberration)与图案移位(patterndisplacement)的光罩,其特征在于:所述光罩包括:一透光基底;一遮光层,设置于该透光基底上,其中该遮光层具有一数组图案(array patterns)区与复数个辅助图案(assist patterns),上述辅助图案是设置于该数组图案区内且其中各辅助图案与其上方及下方的两数组图案等距,并使上述辅助图案的长度与上述数组图案的宽度相等。
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G03 摄影术;电影术;利用了光波以外其他波的类似技术;电记录术;全息摄影术
G03F 图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
G03F1-00 用于图纹面的照相制版的原版,例如掩膜,光掩膜;其所用空白掩膜或其所用薄膜;其专门适用于此的容器;其制备
G03F1-20 .用于通过带电粒子束(CPB)辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如通过电子束;其制备
G03F1-22 .用于通过100nm或更短波长辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如 X射线掩膜、深紫外
G03F1-26 .相移掩膜[PSM];PSM空白;其制备
G03F1-36 .具有临近校正特征的掩膜;其制备,例如光学临近校正(OPC)设计工艺
G03F1-38 .具有辅助特征的掩膜,例如用于校准或测试的特殊涂层或标记;其制备
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