[发明专利]硼同位素热电离质谱测定中氰酸根干扰的消除方法无效
| 申请号： | 03134621.9 | 申请日： | 2003-09-17 |
| 公开（公告）号： | CN1598555A | 公开（公告）日： | 2005-03-23 |
| 发明（设计）人： | 肖应凯;魏海珍;李世珍;孙爱德 | 申请（专利权）人： | 中国科学院青海盐湖研究所 |
| 主分类号： | G01N23/22 | 分类号： | G01N23/22;G01N23/221;H01J49/26 |
| 代理公司： | 兰州中科华西专利代理有限公司 | 代理人： | 王玉双 |
| 地址： | 810008*** | 国省代码： | 青海;63 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种硼同位素热电离质谱测定中氰酸根干扰的消除方法，包括下述步骤：在利用热电离质谱测定涂样时将抑制剂与硼同位素样品按任意比例一起涂在样品带上进行硼同位素组成测定；本发明的方法主要是抑制CNO－和Cs2CNO+离子合成，彻底消除CNO－和Cs2CNO+离子对硼同位素组成测定的同质异位素的干扰。 | ||
| 搜索关键词： | 同位素 电离 测定 氰酸 干扰 消除 方法 | ||
【主权项】：
1、一种硼同位素热电离质谱测定中氰酸根干扰的消除方法，包括下述步骤：在利用热电离质谱测定涂样时将抑制剂与硼同位素样品涂在样品带上进行测定。
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