[发明专利]能够校准的存储器设备及其校准方法有效
| 申请号： | 03136379.2 | 申请日： | 2003-06-03 |
| 公开（公告）号： | CN1487525A | 公开（公告）日： | 2004-04-07 |
| 发明（设计）人： | L·T·特兰;M·K·巴塔查里亚 | 申请（专利权）人： | 惠普开发有限公司 |
| 主分类号： | G11C11/15 | 分类号： | G11C11/15;G11C7/00 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 吴立明;梁永 |
| 地址： | 美国德*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 一种具有存储器单元(130)的一个交叉点阵列(100)的存储器设备(50)，其包括一个温度传感器(150)和一个参考存储器单元(160)。温度传感器(150)检测存储器设备(50)的温度(T)，来自温度传感器(150)和参考存储器单元(160)的数据用于更新用来对存储器单元(130)的阵列(100)编程的写入电流(IxPA，IyPA，IxAP，IyAP，Ix，Iy)。一种校准存储器设备(50)的方法包括检测存储器设备(50)的温度(T)，决定存储器设备的温度是否改变了一个阈值(ΔT)，如果存储器设备的温度改变了该阈值(ΔT)则更新写入电流(IxPA，IyPA，IxAP，IyAP，Ix，Iy)。写入电流值可以通过来自参考存储器单元(160)的数据，或是来自存储在查找表中的写入电流值来进行更新。 | ||
| 搜索关键词： | 能够 校准 存储器 设备 及其 方法 | ||
【主权项】：
1、一种存储器设备(50)，包括：一个衬底；位于衬底之上的存储单元(130)的一个阵列(100)；多个第一导体(110)；多个第二导体(120)，其中第一导体(110)和第二导体(120)在存储器单元(130)处交叉；一个第一电流源(800)，有选择地连接至第一导体(110)并能够提供第一写入电流(IxAP，IxPA，Ix)给选定的第一导体(110)；一个第二电流源(702)，有选择地连接至第二导体(120)并能够提供第二写入电流(IyAP，Iy)给选定的第二导体(120)；一个控制器(52)，其中控制器(52)控制施加第一和第二写入电流到存储器单元(130)的阵列(100)上；及一个位于存储器设备(50)中的温度传感器(150)，用来检测存储器设备(50)的温度(T)，其中来自温度传感器(150)的数据被用来更新第一和第二写入电流。
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