[发明专利]双沟道积累型变容管及其制造方法有效

专利信息
申请号: 03137436.0 申请日: 2003-06-20
公开(公告)号: CN1567596A 公开(公告)日: 2005-01-19
发明(设计)人: 延涛;张国艳;黄如;张兴 申请(专利权)人: 北京大学
主分类号: H01L29/94 分类号: H01L29/94
代理公司: 北京同立钧成知识产权代理有限公司 代理人: 刘国伟;刘芳
地址: 10087*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种双沟道积累型变容管及其制造方法,所述的方法包括:按照制作单沟变容管的方法,制作下层沟道、栅氧一、栅极、侧墙、源极、漏极,源漏注入后,沿单沟变容管的源极、侧墙、栅极和漏极上部淀积或者氧化一层栅氧二;接着在栅氧二之上再淀积一层原位掺杂的多晶硅,作为上层沟道;分别在两侧开设源极、漏极引出孔,引出孔贯通栅氧二和上层多晶硅,金属引出线从引出孔中穿出,通过它将上层沟道和下层沟道连通起来,从而形成双沟道结构的可变电容。本发明通过单栅同时控制两个沟道,在保持其品质因子与单沟变容管相当的前提下,使变容范围增大为传统单沟变容管的两倍,具有广阔的应用前景。
搜索关键词: 沟道 积累 型变容管 及其 制造 方法
【主权项】:
1、一种双沟道积累型变容管,包括由衬底、下层沟道、栅氧一、多晶硅栅极、侧墙、源极、漏极组成的单沟变容管,其特征在于,沿单沟变容管的源极、侧墙、栅极和漏极上部淀积或者氧化一层栅氧二,在栅氧二的上部再淀积一层多晶硅,构成上层沟道;金属引出线分别从源极和漏极引出,并穿过栅氧二和上层的多晶硅,将源极、漏极和上下沟道连通起来,从而形成双沟道结构的可变电容。
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