[发明专利]影像感测器封装方法无效
申请号: | 03137449.2 | 申请日: | 2003-06-20 |
公开(公告)号: | CN1567553A | 公开(公告)日: | 2005-01-19 |
发明(设计)人: | 辛宗宪;杜修文;庄俊华;游朝凯 | 申请(专利权)人: | 胜开科技股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/50 | 分类号: | H01L21/50;H01L27/146 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人: | 刘领弟 |
地址: | 台湾省*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 一种影像感测器封装方法。为提供一种可进行拆卸、具有二次黏合功效、降低生产成本的感测器封装方法,提出本发明,它包括如下步骤:提供设有上、表面的基板;于基板上表面形成凸缘层,并令其与基板构成容置室;将影像感测晶片设置于基板上表面与基板电连接,并位于容置室内;提供透光层,将其盖设并借由二次胶黏着于凸缘层上黏着于凸缘层上;进行初步烘烤,使透光层微黏着于凸缘层上;进行测试,取出品质合格者;将合格产品进行二次烘烤,以将二次胶完全硬化,使透光层稳固地黏着于凸缘层。 | ||
搜索关键词: | 影像 感测器 封装 方法 | ||
【主权项】:
1、一种影像感测器封装方法,它包括下列步骤:步骤一提供设有上、表面的基板;步骤二于基板上表面形成凸缘层,并令其与基板构成容置室;步骤三将影像感测晶片设置于基板上表面与基板电连接,并位于容置室内;步骤四提供透光层,并将其盖设并黏着于凸缘层上;其特征在于所述的步骤四中系借由二次胶黏着于凸缘层上;还包括:步骤五进行初步烘烤,使透光层微黏着于凸缘层上;步骤六进行测试,取出品质合格者;步骤七将合格产品进行二次烘烤,以将二次胶完全硬化,使透光层稳固地黏着于凸缘层。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于胜开科技股份有限公司,未经胜开科技股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/03137449.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:升压型变换器的防病态运行装置
- 下一篇:散热鳍片及鳍片组件
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造