[发明专利]测试一组功能上独立的存储器和置换故障存储字的系统无效

专利信息
申请号: 03141323.4 申请日: 2003-06-04
公开(公告)号: CN1469396A 公开(公告)日: 2004-01-21
发明(设计)人: S·博里;S·柯姆泽尔 申请(专利权)人: 因芬尼昂技术股份公司
主分类号: G11C29/00 分类号: G11C29/00;G11C11/401;G11C7/00
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 吴立明;梁永
地址: 联邦德*** 国省代码: 德国;DE
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摘要: 用于测试一组功能上独立的存储器(102)和用于使用冗余存储字置换该组功能上独立的存储器(102)的故障存储字的系统,包括:包括至少一个冗余存储字阵列(108a)和连接到至少一个冗余存储字阵列(108a)的地址寄存器(108b)的冗余设备(108);测试设备(114);一组第一多路转换器(110),其跟随测试设备(114)而先于存储器(102)和至少一个冗余存储字阵列(108a);和一组第二多路转换器(112),它跟随存储器(102)和至少一个冗余存储字阵列(108a),其中,每一第二多路转换器(112)可连接到测试设备(114)。
搜索关键词: 测试 一组 功能 独立 存储器 置换 故障 存储 系统
【主权项】:
1.一个系统,用于测试一组功能上独立的存储器(102;402)和用于使用冗余存储字置换所述一组功能上独立的存储器(102;402)的故障存储字,包括:-一个冗余设备(108;408),包括至少一个冗余存储字阵列(108a;408a)和连接到所述至少一个冗余存储字阵列(108a;408a)的地址寄存器(108b;408b),用于存储和检索故障存储字的地址;-一个测试设备(114;414),包括测试数据输出(162;462)、测试地址输出(172;472)、读/写输出(164;464),用于给所述一组功能上独立的存储器(102;402)的每一存储器提供测试数据、测试地址和读/写信号;-一组第一多路转换器(110;410),用于分别连接所述测试设备(114;414)的所述测试数据输出(162;462)、所述测试地址输出(172;472)和所述读/写输出(164;464),或相应的功能数据/地址/读/写输入到一个相关的存储器(102;402)的相应的数据/地址/读/写输入(104;404)和到所述至少一个冗余存储字阵列(108a;408a)的相应的数据/地址/读/写输入(120;420);和-一组第二多路转换器(112;412),用于分别连接一个相关存储器(102;402)的相应的存储器数据输出(106;406)或所述至少一个冗余存储字阵列(108a;408a)的相应的冗余数据输出(126;426)到相应的第二多路转换器的一个数据输出(156;456),其中,每一第二多路转换器(112;412)的所述数据输出(156;456)可连接到所述测试设备(114;414)的一个数据输入(158;458),用于从所述一组功能上独立的存储器(102;402)的每一存储器接收数据。
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