[发明专利]堆栈测试方法有效
申请号: | 03141481.8 | 申请日: | 2003-07-09 |
公开(公告)号: | CN1567558A | 公开(公告)日: | 2005-01-19 |
发明(设计)人: | 李炜 | 申请(专利权)人: | 上海华虹集成电路有限责任公司 |
主分类号: | H01L21/66 | 分类号: | H01L21/66;G01R31/28 |
代理公司: | 上海专利商标事务所 | 代理人: | 陈亮 |
地址: | 201203上*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 一种堆栈测试方法,包括以下步骤:a.检测循环压栈;b.检测压入栈的数据的正确性;c.检测循环弹栈d.检测弹出栈的数据的正确性;在完成步骤a-d后,还可以包括e.检查修改指针操作;在完成步骤a-d或步骤a-e后,还可以包括f.检查调用子程序时堆栈的正确性;本发明的堆栈测试方法除了具有基本的压栈,弹栈测试功能外,还提供堆栈的循环压栈、循环弹栈的测试功能、修改堆栈指针操作时对堆栈的影响的测试以及供调用子程序时堆栈的正确性的测试。 | ||
搜索关键词: | 堆栈 测试 方法 | ||
【主权项】:
1.一种堆栈测试方法,包括以下步骤:a.检测循环压栈,从堆栈的顶部开始压栈,一直压栈到堆栈的尾部,再压栈一次,判断堆栈的指针是否回到所述堆栈的顶部,如果指针回到所述堆栈的顶部,则继续下一步骤,否则测试失败,结束测试;b.检测压入栈的数据的正确性,根据所述堆栈在内存中所占据的地址,读取内存中相应地址所对应的数据,与压入堆栈的数据进行比较,如果相同,则继续下一步骤,否则测试失败,结束测试;c.检测循环弹栈,从所述堆栈的尾部开始弹栈,一直弹栈到所述堆栈的顶部,在弹栈一次,判断所述堆栈的指针是否会回到所述堆栈的尾部,如果回到所述堆栈的尾部,则继续下一步骤,否则测试失败,结束测试;d.检测弹出栈的数据的正确性,在所述步骤c中,将堆栈中的弹出的数据与压入堆栈的数据进行比较,如果压入的数据与弹出的数据相同,则测试成功,否则测试失败,步骤d完成后,对堆栈的测试结束。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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