[发明专利]比较电路及方法有效

专利信息
申请号: 03142371.X 申请日: 2003-06-10
公开(公告)号: CN1479200A 公开(公告)日: 2004-03-03
发明(设计)人: 申智善;李载晋;洪裕杓 申请(专利权)人: 三星电子株式会社
主分类号: G06F7/38 分类号: G06F7/38
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 邸万奎;黄小临
地址: 韩国*** 国省代码: 韩国;KR
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摘要: 发明公开了一种二进制比较电路和一种二进制数据比较方法,用于减小配线面积和功耗,和/或增大比较速度。该二进制比较电路和方法接收第一个二进制数据An-1An-2...A1A0和第二个二进制数据Bn-1Bn-2...B1B0的每一个的全部N位;并且,根据如下公式比较第一个二进制数据和第二个二进制数据,以确定第一个二进制数据和第二个二进制数据中的哪一个更大,并且输出对应于比较结果的信号:F(A≤B)=A(n-1)′·B(n-1)+(A(n-1)′+B(n-1))·{A(n-2)′·B(n-2)+(A(n-2)′+B(n-2))...{A1′·B1+(A1′+B1)·(A0′+B0)}}其中下标表示N位二进制数据的位的位置,撇号(′)表示该位被倒置。
搜索关键词: 比较 电路 方法
【主权项】:
1.一种二进制数据比较方法,该方法包括:(a)接收第一个二进制数据A3A2A1A0和第二个二进制数据B3B2B1B0的每一个的全部4位;以及(b)根据如下公式比较第一个二进制数据和第二个二进制数据,以确定第一个二进制数据和第二个二进制数据中的哪一个更大,并且输出对应于比较结果的信号:F(A≤B)=A3′·B3+(A3′·B3)·{A2′·B2+(A2′·B2)·{A1′·B1+(A1′·B1) ·(A01·B0)}}其中,A3′表示第一个二进制数据的倒置MSB,A2′表示第一个二进制数据从LSB起的第二位的倒置,A1′表示第一个二进制数据从LSB起的第一位的倒置,而A0′表示第一个二进制数据的倒置LSB,B3表示第二个二进制数据的MSB,B2表示第二个二进制数据从LSB起的第二位,B1表示第二个二进制数据从LSB起的第一位,而B0表示第二个二进制数据的LSB。
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