[发明专利]透射扫描的校正方法及扫描装置无效
| 申请号： | 03142379.5 | 申请日： | 2003-06-10 |
| 公开（公告）号： | CN1567345A | 公开（公告）日： | 2005-01-19 |
| 发明（设计）人： | 蔡明 | 申请（专利权）人： | 明基电通股份有限公司 |
| 主分类号： | G06K9/03 | 分类号： | G06K9/03 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人： | 蒲迈文;黄小临 |
| 地址： | 台湾省*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 一种透射扫描的校正方法。首先，依据待扫描的透射稿件，设定第一曝光时间及第二曝光时间，其中第一曝光时间和第二曝光时间之间具有特定比例关系。接着，扫描透射稿件及校正区域分别得到扫描信号及校正信号，其中扫描透射稿件时的曝光时间为第一曝光时间，扫描校正区域时的曝光时间为第二曝光时间。接着，利用校正信号求得第一增益系数。再接着，利用所求得的第一增益系数，及第一曝光时间和第二曝光时间的特定比例关系，求得第二增益系数。最后，利用第二增益系数放大扫描信号。 | ||
| 搜索关键词： | 透射 扫描 校正 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种透射扫描的校正方法，其包括下列步骤：依据待扫描的一透射稿件，设定一第一曝光时间及一第二曝光时间，其中该第一曝光时间和该第二曝光时间之间具有一特定比例关系；扫描该透射稿件及一校正区域分别得到一扫描信号及一校正信号，其中扫描该透射稿件时的曝光时间为该第一曝光时间，扫描该校正区域时的曝光时间为该第二曝光时间；利用该校正信号求得一第一增益系数；利用所求得的第一增益系数，及该第一曝光时间和该第二曝光时间的特定比例关系，求得一第二增益系数；以及利用该第二增益系数放大该扫描信号。
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