[发明专利]具有自对准节接触孔的半导体器件及其制造方法有效
申请号: | 03143823.7 | 申请日: | 2003-07-25 |
公开(公告)号: | CN1474436A | 公开(公告)日: | 2004-02-11 |
发明(设计)人: | 金志永;朴济民 | 申请(专利权)人: | 三星电子株式会社 |
主分类号: | H01L21/027 | 分类号: | H01L21/027;H01L21/30;H01L21/76;H01L21/28 |
代理公司: | 中原信达知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 谢丽娜;谷惠敏 |
地址: | 韩国京畿*** | 国省代码: | 韩国;KR |
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摘要: | 多个用于定义有源区的沟槽形成在半导体衬底上,用多个沟槽掩模。间隙填充绝缘层形成在最终结构上以便填充沟槽和沟槽掩模定义的间隙区。接下来,沟槽掩模和间隙填充绝缘层被构图来形成用于定义狭缝开口的沟槽掩模图形和间隙填充绝缘图形,它延伸跨过并且露出有源区。栅图形形成在狭缝开口中,并且沟槽掩模图形被除去以形成露出有源区的接触开口。接下来,接触栓塞被形成以填充接触开口。这里,接触开口是自对准地采用在沟槽掩模和间隙填充绝缘层之间的蚀刻选择性形成的。最终的接触开口是长方体形状的空口。 | ||
搜索关键词: | 具有 对准 接触 半导体器件 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
1.一种制造半导体器件的方法,包括在半导体衬底上形成多个沟槽掩模;通过将沟槽掩模作为蚀刻掩模来蚀刻半导体衬底,以形成用于定义有源区的沟槽,沟槽和沟槽掩模定义了间隙区;用间隙填充绝缘层来填充间隙区;构图沟槽掩模和间隙填充绝缘层,直到露出有源区的顶表面,以形成沟槽掩模图形和间隙填充绝缘图形,沟槽掩模图形和间隙填充绝缘图形定义了延伸跨过有源区的狭缝开口;在狭缝开口中形成栅图形;除去沟槽掩模图形,以形成露出有源区的接触开口;以及形成接触栓塞来填充接触开口。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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