[发明专利]一种边界扫描测试的实现方法及装置

摘要

本发明公开了一种边界扫描测试的实现方法，该方法通过定义特定的数据结构，重复利用一组16位的测试模式选择序列进行测试，大幅度地减少了测试数据量。若用Altera的EPLD逻辑实现，宏单元将不超过128个，可充分节省硬件资源。本发明还公开了一种边界扫描测试总线控制器。

主权项

1、一种边界扫描测试的实现方法，该方法通过终端、测试总线控制器配合对边界扫描器件进行测试，所述终端向测试总线控制器提供边界扫描测试数据，所述总线控制器向边界扫描器件提供测试数据输入数据和测试模式选择；其特征在于该方法包括步骤：A、终端根据边界扫描测试数据中的命令，将该边界扫描测试数据中的测试向量数、扫描链长度及测试模式选择序列分别写入测试总线控制器的测试向量计数器、扫描链长度寄存器和测试模式选择序列移位寄存器；B、测试时钟控制测试总线控制器状态机将扫描链长度值写入扫描链长度计数器，以及移出测试模式选择序列移位寄存器的值，同时将移出的该值返回到该寄存器的尾部重新排队以形成循环移位；C、在测试模式选择序列的第8位移出时，检测扫描链长度计数器；如果扫描链长度计数器的值表示无测试数据输入数据移出，则继续循环移位，然后进行步骤E；否则，测试模式选择序列移位寄存器停止移位，并保持测试模式选择值为该第8位值不变；D、测试总线控制器状态机在测试时钟控制下将测试数据输入移位寄存器中的数据移出，每移出一位将扫描链长度计数器减1，直到扫描链长度为1时移出最后一位数据；E、继续循环移位测试模式选择序列移位寄存器，并在移出第16位时检查测试向量计数器，如果测试向量计数器的值表明所有测试向量已全部传送完，则测试总线控制器状态机停止测试，否则将测试向量计数器的值减1并进行步骤B。