[发明专利]带有效期限的功能利用装置和半导体集成电路有效

专利信息
申请号: 03145379.1 申请日: 2003-07-08
公开(公告)号: CN1484309A 公开(公告)日: 2004-03-24
发明(设计)人: 渡边浩志;松澤一也;白田理一郎 申请(专利权)人: 株式会社东芝
主分类号: H01L27/00 分类号: H01L27/00;H01L21/00
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 王以平
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 带有有效期限的功能利用装置,具有第一功能块、第二功能块、连接所述第一功能块和所述第二功能块之间、能利用通过它们之间相互访问而产生的所需的功能的信号线,以及连接在或存在于所述信号线上、在经过给定的时间后使所述第一功能块和第二功能块之间不能进行相互访问,或能进行相互访问的半导体时限开关。
搜索关键词: 有效期限 功能 利用 装置 半导体 集成电路
【主权项】:
1.一种带有效期限的功能利用装置,包括:第一功能块(1);第二功能块(2);连接所述第一功能块和所述第二功能块之间、并且能利用通过它们相互访问而产生的所需功能的信号线(7);以及连接在或存在于所述信号线(7)上,在经过第一给定时间后使所述第一功能块(1)和所述第二功能块(2)间的所述相互访问实质上成为不可能或实质上成为可能的半导体时限开关(3、3X、10)。
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