[发明专利]测试高速资料传输率的方法有效
| 申请号： | 03145709.6 | 申请日： | 2003-06-30 |
| 公开（公告）号： | CN1567560A | 公开（公告）日： | 2005-01-19 |
| 发明（设计）人： | 丁达刚;王释兴;陈宏傑 | 申请（专利权）人： | 钰创科技股份有限公司 |
| 主分类号： | H01L21/66 | 分类号： | H01L21/66 |
| 代理公司： | 上海智信专利代理有限公司 | 代理人： | 吴林松 |
| 地址： | 台湾省新竹市*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 一种用于多层电路、自动测试系统的资料选通脉冲最佳化的方法包含：首先，并行探测一包括多个电路的电路群；其次，将一自动化测试系统之一资料选通脉冲初始化至一相对于系统时脉循环之一选通脉冲设定点；其次，以并行方式藉使用该选通脉冲设定点来部分测试每一该电路的功能；其次，从该部分测试的步骤，在该选通脉冲设定点，记录一该电路群的电路合格率；其次，将该资料选通脉冲更新到一个新选通脉冲设定点；其次，重复该测试、记录、及更新的步骤直到完成该选通脉冲设定点的一特定范围为止；最后，将用于该电路群的有关于该最高电路合格率的资料选通脉冲设定至选通脉冲设定点。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 高速 资料 传输 方法 | ||
【主权项】：
1.一种用于多层电路、自动测试系统的资料选通脉冲最佳化的方法，包含：并行探测一包括多个电路的电路群；其次，将一自动化测试系统之一资料选通脉冲初始化至一相对于系统时脉循环的一选通脉冲设定点；其次，以并行方式藉使用该选通脉冲设定点来部分测试每一该电路的功能；从该部分测试的步骤，在该选通脉冲设定点，记录一该电路群的电路合格率；其次，将该资料选通脉冲更新到一个新选通脉冲设定点；其次，重复该测试、记录、及更新的步骤直到完成该选通脉冲设定点的一特定范围为止；以及其次，将用于该电路群的该最高晶片合格率的资料选通脉冲设定至选通脉冲的设定点。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
