[发明专利]电子元件测试插置座的可固锁式压控框架有效
| 申请号： | 03145994.3 | 申请日： | 2003-07-18 |
| 公开（公告）号： | CN1479105A | 公开（公告）日： | 2004-03-03 |
| 发明（设计）人： | 王德弘 | 申请（专利权）人： | 威盛电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R31/26 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人： | 刘领弟 |
| 地址： | 台湾省*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种电子元件测试插置座的可固锁式压控框架。为提供一种确实维持装置行程、稳固测试插座上电子元件的设置、避免错误测试结果的电子元件测试装置部件，提出本发明，它包括压控框架及至少一构建压控框架上的卡栓机构；卡栓机构包括设置于压控框架中的锁穴、滑动槽及突锁块；锁穴与压控框架的外缘面形成间隔壁，并形成面对下压冲程间隙的槽口；滑动槽贯设于间隔壁上，并连接锁穴与压控框架的外缘面；突锁块为突入下压冲程间隙的块体，其包括设置于压控框架外以作为卡栓机构输入端的主动部、设置于锁穴中的突锁部及连接主动部与突锁部并滑动位于滑动槽内的滑动部；滑动部与滑动槽构成使卡栓机构处于收藏状态/限位状态的滑动副。 | ||
| 搜索关键词： | 电子元件 测试 插置座 可固锁式压控 框架 | ||
【主权项】：
1、一种电子元件测试插置座的可固锁式压控框架，它包括叠置于基座上并与基座间形成数个以凹凸可嵌合构形下压冲程间隙的压控框架；其特征在于所述的压控框架上构建至少一邻近至少一下压冲程间隙的卡栓机构；卡栓机构包括锁穴、滑动槽及借由锁穴与滑动槽移动的突锁块；锁穴系呈开放内凿的方式设置于压控框架中，并与压控框架的外缘面形成间隔壁，并形成面对下压冲程间隙的槽口；滑动槽系以滑向下压冲程间隙的方式贯穿设于间隔壁上，并连接锁穴与压控框架的外缘面；突锁块为与锁穴及滑动槽配合形成用以突入下压冲程间隙的块体，其包括设置于压控框架外以作为卡栓机构输入端的主动部、设置于锁穴中的突锁部及连接主动部与突锁部并滑动位于滑动槽内的滑动部；滑动部与滑动槽构成使卡栓机构处于收藏状态/限位状态的滑动副。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于威盛电子股份有限公司，未经威盛电子股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/03145994.3/，转载请声明来源钻瓜专利网。
