[发明专利]电缆绝缘层厚度X光检测方法无效
| 申请号： | 03146506.4 | 申请日： | 2003-07-03 |
| 公开（公告）号： | CN1469102A | 公开（公告）日： | 2004-01-21 |
| 发明（设计）人： | 周俊 | 申请（专利权）人： | 周俊 |
| 主分类号： | G01B15/02 | 分类号： | G01B15/02 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 | 代理人： | 刘洪勋 |
| 地址： | 201100上海市*** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供了一种电缆绝缘层厚度的方法，其关键在于X光发射和接收头分列电缆的两侧，利用测量接受头上X光线强度的大小，即可以测得电缆绝缘层的厚度，其改进X光发射和接收头组成的检测付可以沿着垂直于电缆轴线的方向运动，作为另一种改进X光发射和接收头组成的检测付还可以绕电缆轴线的方向转动，采用本发明后，提供了电缆生产的在线检测方法，大大提高了电缆生产率，减少了电缆废品率。 | ||
| 搜索关键词： | 电缆 绝缘 厚度 检测 方法 | ||
【主权项】：
1、一种电缆绝缘层厚度X光检测方法，其特征在于：通过测量穿过绝缘层的X光通量变化即可获得绝缘层偏心度变化量，X光发射头和接受头分列电缆两侧，X光线垂直于电缆。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于周俊，未经周俊许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/03146506.4/，转载请声明来源钻瓜专利网。
