[发明专利]半导体存储装置无效
| 申请号： | 03147091.2 | 申请日： | 2003-08-28 |
| 公开（公告）号： | CN1495791A | 公开（公告）日： | 2004-05-12 |
| 发明（设计）人： | 桥本洁和;古田博伺 | 申请（专利权）人： | 恩益禧电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C8/04 | 分类号： | G11C8/04;G11C11/22;G11C11/34;H01L27/10 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人： | 朱进桂 |
| 地址： | 日本神*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 一种半导体存储装置包括(a)多个基准单元(MR0至MR15)，和(b)多个存储单元(MC00至MCnm)，存储在从多个基准单元中选定的一个基准单元中的数据与存储在从多个存储单元中选定的存储单元中的数据相比较，其特征在于一个地址转变检测器(13)用于在地址的输入中检测转换，通过检测从所述存储单元中选择一个存储单元，并发送地址转变检测信号P0用来指示检测的转换，一个计数器(102)用于计数所述的地址转变检测信号；和一个基准单元解码器(103)用于依据从所述计数器(102)发送的输出从所述的基准单元中选择一个基准单元。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体 存储 装置 | ||
【主权项】：
1、一种半导体存储装置包括(a)多个基准单元，和(b)多个存储单元，存储在从所述的基准单元中选定的基准单元中的数据与存储在从所述的存储单元中选定的存储单元中的数据相比较，其特征在于：地址转变检测器，用于检测在地址输入中的转变，通过该检测从所述存储单元中选择一个存储单元，并发送地址转变检测信号用来指示检测的转换；计数器，用于计数所述的地址转变检测信号；和基准单元解码器，用于依据从所述计数器发送的输出从所述的基准单元中选择一个基准单元。
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