[发明专利]半导体存储器件无效
申请号: | 03147169.2 | 申请日: | 2003-07-08 |
公开(公告)号: | CN1481027A | 公开(公告)日: | 2004-03-10 |
发明(设计)人: | 铃贵幸 | 申请(专利权)人: | 恩益禧电子股份有限公司 |
主分类号: | H01L27/10 | 分类号: | H01L27/10;G11C11/41 |
代理公司: | 中原信达知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 钟强;黄敏 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 一种半导体存储器件,由多个读出放大器组成。读出放大器以两个放大器列的形式排列。两个放大器列设置在两个单元片的单元列之间。地址电路、ATD电路和延迟电路设置在输入引脚行和两个单元列之间。ATD脉冲合成器设置在两个放大器列之间,与ATD电路和延迟电路相隔一个预定的信号传输路径。 | ||
搜索关键词: | 半导体 存储 器件 | ||
【主权项】:
1.一种半导体存储器件,包括:一个输入引脚行,包括多个输入引脚;一个输出引脚行,包括多个输出引脚;一个存储单元阵列,位于输入引脚行和输出引脚行之间,包括以多个单元列形式排列的多个单元片;多个读出放大器,以两个放大器列的形式排列,位于多个单元列中的相邻两个单元列之间;一个地址电路;一个地址晶体管检测器(ATD)电路,根据检测出的地址电路中的变化而提供ATD脉冲;一个ATD脉冲合成器,响应ATD脉冲而提供一个合成的脉冲;一个输出电路;以及 一个延迟电路,响应ATD脉冲合成器的合成脉冲而提供一个读出放大数据锁存信号和一个输出数据锁存信号,至少地址电路、地址晶体管检测器(ATD)电路和延迟电路设置在输入引脚行和多个单元列之间,ATD脉冲合成器位于两个放大器列之间,与ATD电路和延迟电路相隔一个预定的信号传输路径。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
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