[发明专利]半导体压力传感器有效
申请号: | 03147271.0 | 申请日: | 2003-07-11 |
公开(公告)号: | CN1571183A | 公开(公告)日: | 2005-01-26 |
发明(设计)人: | 杨健生 | 申请(专利权)人: | 友达光电股份有限公司 |
主分类号: | H01L49/00 | 分类号: | H01L49/00;H01L41/00;H01L27/00;B81B7/00;G01L9/00 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人: | 李晓舒;魏晓刚 |
地址: | 台湾省*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 一种半导体压力传感器(semiconductor pressuresensor)。该半导体压力传感器包含有一非单晶硅基底;一可动的隔膜(diaphragm);至少一压电电阻(piezoresistor),设于该隔膜上;一支承构件(supporter),设于该非单晶硅基底上,用来固定该隔膜的两端,使得该隔膜与该非单晶硅基底之间形成一凹穴(cavity);以及一薄膜晶体管(thin film transistor,TFT)控制电路,电连接于该隔膜与该压电电阻。 | ||
搜索关键词: | 半导体 压力传感器 | ||
【主权项】:
1.一种半导体压力传感器(semiconductor pressure sensor),其包含有:一非单晶硅基底;一可动的绝缘隔膜(diaphragm);至少一压电电阻(piezoresistor),设于该绝缘隔膜上;一绝缘支承构件(supporter),设于该非单晶硅基底上,用来固定该绝缘隔膜的两端,使得该绝缘隔膜与该非单晶硅基底之间形成一凹穴(cavity),以及一薄膜晶体管(thin film transistor,TFT)控制电路,设于该非单晶硅基底上,并电连接于该绝缘隔膜与该压电电阻。
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