[发明专利]剥离方法有效
申请号: | 03147669.4 | 申请日: | 2003-07-16 |
公开(公告)号: | CN1472772A | 公开(公告)日: | 2004-02-04 |
发明(设计)人: | 高山彻;丸山纯矢;后藤裕吾;大野由美子;鹤目卓也;桑原秀明 | 申请(专利权)人: | 株式会社半导体能源研究所 |
主分类号: | H01L21/00 | 分类号: | H01L21/00 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 吴立明;梁永 |
地址: | 日本神奈*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 提供了一种不损伤待要剥离的层的剥离方法,且此方法不仅能够剥离面积小的待要剥离的层,而且能够以高的成品率剥离面积大的整个待要剥离的层。而且,提供了一种通过将待要剥离的层粘合到各种基底材料而降低了重量的半导体器件及其制造方法。确切地说,提供了一种通过将典型为TFT的各种元件粘合到柔性膜而降低了重量的半导体器件及其制造方法。金属层或氮化物层被提供在衬底上;氧化物层被提供成与金属层或氮化物层相接触;然后形成基底绝缘膜和含有氢的待要剥离的层;并在410℃或更高的温度下执行热处理,以便扩散氢。结果,能够用物理方法在氧化物层中或在其界面处获得完全的剥离。 | ||
搜索关键词: | 剥离 方法 | ||
【主权项】:
1.一种剥离方法,它包含:在衬底上形成金属层;形成与金属层接触的氧化物层;形成与氧化物层接触的绝缘膜;在绝缘膜上形成具有非晶结构并含有氢的半导体;执行热处理以便扩散氢;将支持部件粘合到包括氧化物层、绝缘膜以及半导体膜的待要剥离的层;以及用物理方法,从形成在衬底上的金属层剥离粘合到支持部件的待要剥离的层。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
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H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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