[发明专利]有机发光二极管电子显微镜试片及其制作方法有效

专利信息
申请号: 03148265.1 申请日: 2003-06-30
公开(公告)号: CN1566918A 公开(公告)日: 2005-01-19
发明(设计)人: 蔡和廷 申请(专利权)人: 友达光电股份有限公司
主分类号: G01N1/28 分类号: G01N1/28;H01J37/20
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 代理人: 王占梅
地址: 台湾省新竹市*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 一种有机发光二极管电子显微镜试片及其制作方法。首先,提供有机发光二极管样品,其中有机发光二极管样品至少包含基板、第一电极层、有机层以及第二电极层。接着,形成保护层于样品的表面。随后,对有机发光二极管样品进行切割程序,取得具有特定厚度的有机发光二极管样品薄片,用以增加有机层的有机材料分子被穿透式电子显微镜所发射的电子束打到的机率,得以产生绕射成像,得到试片的影像。
搜索关键词: 有机 发光二极管 电子显微镜 试片 及其 制作方法
【主权项】:
1、一种有机发光二极管电子显微镜试片的制作方法,用于电子显微镜的观测,通过该电子显微镜发射的电子束穿过该试片产生穿透及绕射现象,得到该试片的影像,其特征是至少包含下列步骤:提供一有机发光二极管样品,其中该有机发光二极管样品至少包含一基板、一第一电极层、一有机层以及一第二电极层,该第一电极层是位于该基板之上,该有机层是位于该第一电极层之上,该第二电极层是位于该有机层之上;形成一保护层于该样品的表面;以及对该有机发光二极管样品进行一切割程序,取得该有机发光二极管样品的薄片。
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