[发明专利]存储装置无效

专利信息
申请号: 03148731.9 申请日: 2003-06-24
公开(公告)号: CN1469481A 公开(公告)日: 2004-01-21
发明(设计)人: 嶋田恭博;加藤刚久;田中圭介;上田大助 申请(专利权)人: 松下电器产业株式会社
主分类号: H01L27/10 分类号: H01L27/10;G11C11/22
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 汪惠民
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 一种存储装置,具有包含由在硅构成的基板(10)上依次形成的下部电极(21)、铁电体膜(22)以及上部电极(23)所构成的电容(20)的存储单元。铁电体膜(22),在下部电极(21)上选择性生长后形成。这样,由于在具有所希望的下部电极(21)上选择性地形成铁电体膜(22),在铁电体膜(22)中不会有损伤部,可以实现存储单元的微细化。
搜索关键词: 存储 装置
【主权项】:
1.一种存储装置,其特征在于:具有包含由在基板上依次形成的第1电极、铁电体膜以及第2电极所构成的电容的存储单元,所述铁电体膜在所述第1电极上选择性地生长形成。
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