[发明专利]液晶胞面板的污染检测方法及其取样工具有效
| 申请号： | 03148928.1 | 申请日： | 2003-06-24 |
| 公开（公告）号： | CN1566919A | 公开（公告）日： | 2005-01-19 |
| 发明（设计）人： | 黄教忠 | 申请（专利权）人： | 友达光电股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N1/28 | 分类号： | G01N1/28;G01N33/00;G02F1/13 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人： | 贾静环;宋莉 |
| 地址： | 台湾省*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 一种液晶胞面板的污染检测方法，包括以下步骤：(a)提供液晶胞面板；(b)利用取样工具从液晶胞面板表面取得液晶样品；(c)使用溶剂将液晶样品由取样工具上冲洗下来；(d)分析液晶样品的成分；以及(e)求出成分的浓度，以判断液晶胞面板是否被污染。 | ||
| 搜索关键词： | 液晶 面板 污染 检测 方法 及其 取样 工具 | ||
【主权项】：
1、一种液晶胞面板的污染检测方法，包括以下步骤：(a)提供液晶胞面板；(b)利用取样工具从该液晶胞面板表面取得液晶样品；(c)使用溶剂将该液晶样品由该取样工具上冲洗下来；(d)分析该液晶样品的成分；以及(e)求出该成分的浓度，以判断该液晶胞面板是否被污染。
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