[发明专利]能减少失真和噪声及增加绝缘度的开关电容结构有效
申请号: | 03149358.0 | 申请日: | 2003-06-17 |
公开(公告)号: | CN1471234A | 公开(公告)日: | 2004-01-28 |
发明(设计)人: | S·G·巴兹利;R·K·库马拉贡特勒 | 申请(专利权)人: | 模拟设备股份有限公司 |
主分类号: | H03M1/08 | 分类号: | H03M1/08;H03M1/12 |
代理公司: | 上海专利商标事务所 | 代理人: | 李家麟 |
地址: | 美国马*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 提供开关电容结构,因为这些开关电容结构能增强结构元件之间的绝缘度,并能在不同模式中,保证所选元件可靠和快速地截止和导通,能减少它们处理信号中的失真和噪声。 | ||
搜索关键词: | 减少 失真 噪声 增加 绝缘 开关 电容 结构 | ||
【主权项】:
1、一种开关电容级,所述开关电容级包括一个缓冲晶体管和一个采样电容,串连在第一个和第二个采样开关之间,这两个开关在运行的采样模式中闭合,并包括第一个和第二个转移开关在运行的转换模式中闭合,并分别连接到所述缓冲晶体管的控制端和电流端;所述改进包括:第二个缓冲晶体管,含有一个控制端,接收输入信号;和一个电流端,连接到所述第一个采样开关,以将所述输入信号传递给所述第一个采样开关。
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