[发明专利]两级颗粒分级装置无效
| 申请号： | 03149992.9 | 申请日： | 2003-08-04 |
| 公开（公告）号： | CN1579649A | 公开（公告）日： | 2005-02-16 |
| 发明（设计）人： | 张家元;葛蔚;李静海 | 申请（专利权）人： | 中国科学院过程工程研究所 |
| 主分类号： | B07B13/10 | 分类号： | B07B13/10;B07B13/08 |
| 代理公司： | 北京泛华伟业知识产权代理有限公司 | 代理人： | 王凤华 |
| 地址： | 100080北*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种两级颗粒分级装置，包括一向下倾斜的第一反射板，还包括一个用于对颗粒物料进行偏析的二次偏析器，所述二次偏析器带有可用于承载颗粒物料的上表面，所述二次偏析器位于所述第一反射板下方并且处于颗粒流的运动路径上。本发明的两级颗粒分级装置对颗粒物料的粒度偏析效果好，适应性强，结构及操作均非常简单，成本也极低。该装置可适用于烧结混合料偏析布料以及矿业、农业和制药等行业的粒状物的偏析筛分工艺。 | ||
| 搜索关键词： | 两级 颗粒 分级 装置 | ||
【主权项】：
1、一种两级颗粒分级装置，包括一向下倾斜的第一反射板，其特征在于，还包括一个用于对粒状物料进行偏析的二次偏析器，所述二次偏析器带有可用于承载粒状物料的上表面，所述二次偏析器位于所述第一反射板下方并且处于颗粒流的运动路径上。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院过程工程研究所，未经中国科学院过程工程研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/03149992.9/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：光学装置
- 下一篇：大型警卫任务的车队自动指挥调度系统及运行方法
