[发明专利]用来分析反射测量信息的分析系统无效
| 申请号： | 03150199.0 | 申请日： | 2003-07-21 |
| 公开（公告）号： | CN1482469A | 公开（公告）日： | 2004-03-17 |
| 发明（设计）人： | T·韦尔梅朗;T·博斯东;L·P·范比耶桑;F·卢阿热;P·J·M·博埃特斯 | 申请（专利权）人： | 阿尔卡特公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R31/11;H04B17/00 |
| 代理公司： | 北京市中咨律师事务所 | 代理人： | 杨晓光;李峥 |
| 地址： | 法国*** | 国省代码： | 法国;FR |
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| 摘要： | 用于分析反射测量信息的分析系统(IS)具有用来进行分析的模块(M1，M2)，其中每个模块包括生成模块部分(G1，G2)、测试模块部分(T1，T2)和调试模块部分(D1，D2)，第一模块(M1)作为下一模块(M2)的生成系统部分，下一模块(M2)作为第一模块(M1)的测试系统部分和调试系统部分，以引入更高的智能(例如，人工智能)。这样的分析系统(IS)具有双层生成－测试－调试结构或者GTD结构，在模块级别有两个这样的结构，在系统级别有一个。可以通过引入第三模块(M3)，使得在模块级别有三个GTD结构，在系统级别有两个GTD结构，从而使这个提高的智能获得(进一步)提高。初步分析、中间分析以及精确分析分别是基于脉冲、能量和仿真，来增加提高的智能的效率。 | ||
| 搜索关键词： | 用来 分析 反射 测量 信息 系统 | ||
【主权项】：
1.一种用来分析反射测量信息的分析系统(IS)，其特征在于，所述的分析系统(IS)至少包括用来进行第一次分析的第一模块(M1)，和用来进行第二次分析的第二模块(M2)，每个模块(M1，M2)包括生成模块部分(G1，G2)、测试模块部分(T1，T2)和调试模块部分(D1，D2)，所述第一模块(M1)作为所述第二模块(M2)的生成系统部分，所述第二模块(M2)作为所述第一模块(M1)的测试系统部分和调试系统部分。
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