[发明专利]静电放电箝制电路无效
申请号: | 03150221.0 | 申请日: | 2003-07-21 |
公开(公告)号: | CN1571153A | 公开(公告)日: | 2005-01-26 |
发明(设计)人: | 叶达勋;李朝政;曹太和 | 申请(专利权)人: | 瑞昱半导体股份有限公司 |
主分类号: | H01L23/60 | 分类号: | H01L23/60;H01L27/00 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人: | 王占梅 |
地址: | 台湾省*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 一种静电放电箝制电路,包含一ESD侦测电路,及一具有纵向NPN双载子接面晶体管的静电放电电路。该NPN双载子接面晶体管形成于P型基材上,且该NPN双载子接面晶体管包含:一深N井区域,形成于P型基材上;一P型井区,形成于深N井区域上的部分区域;一N型井区,形成于深N井区域上的P型井区的周围;一第一N+区域,形成于P型井区上的部分区域,该第一N+区域电连接第一工作电压;一P+区域,形成于P型井区上的第一N+区域的周围,该P+区域电连接触发电压;以及一第二N+区域,形成于N型井区上,电连接第二工作电压。该NPN双载子接面晶体管利用深N井区域隔离P型井区与P型基材,可降低漏电电流,提高电流增益,有效减少静电放电箝制电路面积。 | ||
搜索关键词: | 静电 放电 箝制 电路 | ||
【主权项】:
1、一种静电放电箝制电路,包含:一ESD侦测电路,是电连接于一第一工作电压与一第二工作电压之间,用来侦测前述第一工作电压与前述第二工作电压之间的一静电,并产生一触发电压;以及一NPN双载子接面晶体管,是电连接于前述第一工作电压与前述第二工作电压之间,并经由前述触发电压的触发而导通,藉以让前述静电的电流从前述第一工作电压流至前述第二工作电压;其特征是:前述NPN双载子接面晶体管是形成于一P型基材上,且前述NPN双载子接面晶体管包含:一深N井区域,是形成于前述P型基材上;一P型井区,是形成于前述深N井区域上的部分区域;一N型井区,是形成于前述深N井区域上的前述P型井区的周围;一第一N+区域,是形成于前述P型井区上的部分区域,且前述第一N+区域是电连接于前述第一工作电压;一P+区域,是形成于前述P型井区上的前述第一N+区域的周围,且前述P+区域是电连接于前述触发电压;以及一第二N+区域,是形成于前述N型井区上,且电连接于前述第二工作电压。
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