[发明专利]一种电子显微镜测量物质长度的方法无效
| 申请号： | 03150837.5 | 申请日： | 2003-09-08 |
| 公开（公告）号： | CN1523323A | 公开（公告）日： | 2004-08-25 |
| 发明（设计）人： | 盛克平;丁听生;张利明 | 申请（专利权）人： | 上海市计量测试技术研究院 |
| 主分类号： | G01B21/02 | 分类号： | G01B21/02;H01J37/26;H01J37/22 |
| 代理公司： | 上海世贸专利代理有限责任公司 | 代理人： | 李浩东 |
| 地址： | 20023*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及物质形态分析及计量测试技术领域，尤其是涉及一种具有溯源值、并带有不确定度评估的电子显微镜测量物质长度的方法。它包括如下步骤：a.校准电子显微镜；b.用电子显微镜拍摄被测物质图像；c.测量被测物质图像；d.计算被测物质的长度值L。本发明实现了用电子显微镜测量物质长度、使用有证标准物质来校准与最终图像的放大倍率具有唯一关联的电子显微镜输出图像上的显微标尺对电子显微镜进行有溯源性校准、并使用校准过的电子显微镜来拍摄物质的图像、测量和计算被拍摄物质的长度并可给出物质长度的不确定度评估方法。该方法使得被测量物质的测量值具有溯源性和带有不确定度评估值，改变了目前电子显微镜的测量值没有溯源性和不确定度评估的状态。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 电子显微镜 测量 物质 长度 方法 | ||
【主权项】：
1.一种电子显微镜测量物质长度的方法，其特征是它包括如下步骤：a.校准电子显微镜；b.用电子显微镜拍摄被测物质图像；c.测量被测物质图像；d.计算被测物质的长度值L。
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