[发明专利]制备材料芯片的k分分形掩膜方法无效
申请号: | 03150906.1 | 申请日: | 2003-09-11 |
公开(公告)号: | CN1523443A | 公开(公告)日: | 2004-08-25 |
发明(设计)人: | 冯兰;顾明;蔡英文;何丹农;余震 | 申请(专利权)人: | 上海交通大学 |
主分类号: | G03F1/00 | 分类号: | G03F1/00;G03F1/14;H01L21/363;H01L23/16 |
代理公司: | 上海交达专利事务所 | 代理人: | 王锡麟;王桂忠 |
地址: | 20003*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 一种制备材料芯片的k分分形掩膜方法,属于材料芯片领域。本发明以所需制成的材料芯片中元素的最大水平数k为依据,首先将基本掩膜分成k个中心对称的区域,即k分分形,其中之一被设为通透状态,将所得掩膜依次向同一方向旋转360°/k,每旋转一次即溅射第一种元素的一个水平,旋转第一个周期后,芯片上有k个材料单元,以后每加入一种元素采用一张新掩膜,将当前芯片上材料单元区对应的掩膜区域按照基本掩膜的分形方式进行分形就得到下一张新的掩膜,即每张掩膜都有与基本掩膜相似的结构,经过n次分形叠加以k次旋转操作就得到最大水平数为k的任意n种元素组合而成的材料芯片。本发明方法不受元素的水平数限制,具有较强的实用性和普遍的适用性。 | ||
搜索关键词: | 制备 材料 芯片 分分 形掩膜 方法 | ||
【主权项】:
1、一种制备材料芯片的k分分形掩膜方法,其特征在于,以所需制成的材料芯片中元素的最大水平数k为依据,首先将基本掩膜分成具有与其相似结构的k个中心对称的区域,即k分分形,其中之一被设为通透状态,将所得掩膜依次向同一方向旋转360°/k,每旋转一次即溅射第一种元素的一个水平,旋转第一个周期后,芯片上有k个材料单元,以后每加入一种元素采用一张新掩膜,将当前芯片上材料单元区对应的掩膜区域按照基本掩膜的分形方式进行分形就得到下一张新的掩膜,即每张掩膜都有与基本掩膜相似的结构,经过n次分形叠加以k次旋转操作就得到最大水平数为k的任意n种元素组合而成的材料芯片。
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G03 摄影术;电影术;利用了光波以外其他波的类似技术;电记录术;全息摄影术
G03F 图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
G03F1-00 用于图纹面的照相制版的原版,例如掩膜,光掩膜;其所用空白掩膜或其所用薄膜;其专门适用于此的容器;其制备
G03F1-20 .用于通过带电粒子束(CPB)辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如通过电子束;其制备
G03F1-22 .用于通过100nm或更短波长辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如 X射线掩膜、深紫外
G03F1-26 .相移掩膜[PSM];PSM空白;其制备
G03F1-36 .具有临近校正特征的掩膜;其制备,例如光学临近校正(OPC)设计工艺
G03F1-38 .具有辅助特征的掩膜,例如用于校准或测试的特殊涂层或标记;其制备
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