[发明专利]超大规模集成电路验证的可满足性问题的解决方法

摘要

本发明为一种解决超大规模集成电路验证的可满足性问题方法。它以深度优先搜索为基础，加入了推理过程，并利用推理过程对决策的策略做了相应的改进。具体步骤包括：决策过程、布尔约束的简化过程、回溯过程、学习过程和推理过程。其数据结构采用了2－3混合型变量监测数据结构形式。本发明方法可大大降低决策次数，提高工作效率。

主权项

1、一种超大规模集成电路验证的可满足性问题的解决方法，以深度优先搜索算法为基础，其特征在于加入了推理过程，并利用推理过程对决策的策略作相应改进，具体步骤如下：(1)决策过程：通过一种策略选取还未赋值的变量进行赋值；(2)布尔约束的简化过程：利用已有的赋值，寻找受约束的单元子句，并对单元子句 中的变量赋值；(3)回溯过程：在当前赋值遇到矛盾时，改变最近赋值变量的值，从而解决矛盾，向另外的搜索空间搜索；(4)学习过程：当遇到矛盾时，分析之前赋过值的变量情况，在其中找到导致矛盾的一组变量，以子句的形式加入到原问题中，可以在以后的搜索中避免遇到相同的矛盾；(5)推理过程：在布尔约束简化过程完了以后，对于简化后的问题(子问题)作进一步探索，以期望找到更多的已经可以确定的变量赋值(所谓的强制赋值的文字)，使搜索过程避免不必要的或无用的决策，从而大大降低决策次数。