[发明专利]材料样品库发光特性的快速分析测试方法及装置无效
| 申请号： | 03152935.6 | 申请日： | 2003-09-04 |
| 公开（公告）号： | CN1487282A | 公开（公告）日： | 2004-04-07 |
| 发明（设计）人： | 高琛;刘小楠;崔宏滨 | 申请（专利权）人： | 中国科学技术大学 |
| 主分类号： | G01N21/62 | 分类号： | G01N21/62;G01N21/63;G01N21/66 |
| 代理公司： | 南京经纬专利商标代理有限公司 | 代理人： | 王之梓 |
| 地址： | 230026*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种材料样品库发光特性的快速分析测试方法及装置。方法：先用材料发光光波的激发源激发材料样品库上的所有样品，使材料样品库上的每个样品受激发产生发光光波，再经光学成像后，用光学记录器记载材料样品库上每个样品发出的相反光波。装置由材料发光光波激发源、样品架、成像镜头和光学记录器组成，在样品架上放置材料样品库，材料发光光波激发源、样品架、成像镜头和光学记录器设在工作台上，成像透镜及光学记录器位于样品受激发源激发后所产生的发光光波的光路上。利用本发明，可以快速地比较、判断一个材料样品库上各个样品的发光性能，从中筛选出优良的发光材料配方。 | ||
| 搜索关键词： | 材料 样品 发光 特性 快速 分析 测试 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种用于材料样品库上材料样品库发光特性的快速分析测试方法，其特征在于先用材料发光光波的激发源激发材料样品库上的所有样品，使材料样品库上的每个样品受激发产生发光光波，再经光学成像后，用光学记录器记载材料样品库上每个样品发出的光波。
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