[发明专利]一种传声器芯片及其制备方法无效
申请号: | 03153254.3 | 申请日: | 2003-08-12 |
公开(公告)号: | CN1582065A | 公开(公告)日: | 2005-02-16 |
发明(设计)人: | 徐联;汪承灏;黄歆;魏建辉;李俊红 | 申请(专利权)人: | 中国科学院声学研究所 |
主分类号: | H04R19/04 | 分类号: | H04R19/04;H04R31/00 |
代理公司: | 北京泛华伟业知识产权代理有限公司 | 代理人: | 王凤华 |
地址: | 100080北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明涉及传声器芯片结构和制备方法,包括一n-型硅基片,在硅基片的正面扩散硼形成p+型搀杂层,在其上通过沉积二氧化硅并光刻、腐蚀成隔离层,在隔离层上附着一振动膜层,振动膜层之上沉积金属铝膜和方形铝电极;在硅基片的反面有一层氮化硅保护膜,从硅基片的底面腐蚀出一梯形缺口,该梯形缺口的深度至p+型搀杂层,垂直于该搀杂层腐蚀出声学孔形成穿孔背板,穿孔背板与振动膜层之间为空气隙;所述的隔离层为圆环状。该传声器芯片制备方法简单;芯片由不同的金属材料分别制成圆环形的隔离层和圆形的牺牲层,在实现圆形结构的同时,实现褶皱环的制作,减小振动膜的应力,避免时效破裂;提高了传声器灵敏度。 | ||
搜索关键词: | 一种 传声器 芯片 及其 制备 方法 | ||
【主权项】:
1、一种传声器芯片,包括一n-型硅基片(1),在硅基片(1)的正面扩散硼形成p+型掺杂层(3),在p+型掺杂层(3)上面沉积二氧化硅并光刻、腐蚀成隔离层(4),隔离层(4)上附着一层氮化硅做的振动膜层(6),振动膜层(6)之上沉积金属铝膜,并光刻、腐蚀成圆形铝膜和方形铝电极(9);在硅基片(1)的背面有一层氮化硅保护膜(10),从硅基片(1)的底面腐蚀出一梯形缺口,该梯形缺口的深度至p+型掺杂层(3),并在垂直于p+型掺杂层(3)的方向上腐蚀出声学孔(7),形成一穿孔背板,穿孔背板与振动膜层(6)之间为空气隙(8);其特征在于:所述的隔离层(4)为圆环形,其厚度为0.5~6微米,内径为500~3000微米,径向宽度为50~300微米;所述的空气隙(8)为圆形,其厚度为0.5~5微米,直径比圆环形隔离层(4)的内径大1~10微米;所述的振动膜层(6)为圆形,其厚度为0.1~1微米,直径500~3000微米。
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