[发明专利]半导体存储装置及其制造方法和驱动方法无效

专利信息
申请号: 03154304.9 申请日: 2003-08-14
公开(公告)号: CN1482683A 公开(公告)日: 2004-03-17
发明(设计)人: 加藤刚久;嵨田恭博;山田隆善 申请(专利权)人: 松下电器产业株式会社
主分类号: H01L27/10 分类号: H01L27/10;G11C11/34;H01L21/82
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 汪惠民
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提供一种半导体存储装置及其制造方法和驱动方法。在将数据作为极化值进行存储的强电介质电容器的2个电极上施加读出电压,以增加读出极化值时的动作余量。半导体存储装置装备有具有将数据作为极化值进行存储的强电介质电容器(C0)、(C1)的多个存储器单元。在构成多个存储器单元中的作为读出数据的存储器单元的强电介质电容器(C0)、(C1)的2个电极之间施加读出电压,并通过检测强电介质电容器(C0)、(C1)的极化值来读出存储在强电介质电容器(C0)、(C1)的数据。强电介质电容器(C0)、(C1)的滞后曲线向与读出电压的极性相反的电压侧移动。
搜索关键词: 半导体 存储 装置 及其 制造 方法 驱动
【主权项】:
1.一种半导体存储装置,其特征在于:由分别具有将数据作为极化值进行存储的第1强电介质电容器的多个存储器单元、在构成所述多个存储器单元中的作为数据读出对象的存储器单元的所述第1强电介质电容器的2个电极之间施加第1读出电压的第1电压施加单元、通过检测在所述第1强电介质电容器的2个电极之间施加所述第1读出电压时的所述第1强电介质电容器的极化值来读出存储在所述第1强电介质电容器的数据的读出单元所组成,所述第1强电介质电容器的滞后曲线向与所述第1读出电压的极性相反的电压侧移动。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于松下电器产业株式会社,未经松下电器产业株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/03154304.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top