[发明专利]记忆体组装状态的自动化检查方法无效
| 申请号： | 03155867.4 | 申请日： | 2003-08-25 |
| 公开（公告）号： | CN1591029A | 公开（公告）日： | 2005-03-09 |
| 发明（设计）人： | 李永谦 | 申请（专利权）人： | 英业达股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R31/02 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人： | 董惠石 |
| 地址： | 台湾省*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明是一种记忆体组装状态的自动化检查方法，是在一电子装置中设有一测试程序，该测试程序通过该电子装置所设的双向两线式串列汇流排，侦测该电子装置的主机板的各记忆体插槽所插接的记忆体模组，取得该等记忆体模组的组装状态，且将该组装状态相对应一代码，该代码可由该电子装置的显示器输出，以籍由该代码可轻易地获知各记忆体插槽上所插接的记忆体模组的容量及插接位置是否正确。 | ||
| 搜索关键词： | 记忆体 组装 状态 自动化 检查 方法 | ||
【主权项】：
1、一种记忆体组装状态的自动化检查方法，在一电子装置设有一测试程序，该电子装置执行该测试程序后，藉由察看该电子装置所设的显示器上所显示的一代码，即可轻易地获知记忆体模组于各记忆体插槽的插设情形，其中该测试程序是依下列步骤，以达到上述的测试结果：首先，通过该电子设备所设的双向两线式串列汇流排，以侦测被安装在该电子装置的各记忆体插槽上的记忆体模组，并读取该等记忆体模组上具有串列式规格侦测装置功能的一唯读记忆体，藉以取得各该插接记忆体模组的组装状态；然后，将该组装状态相对应于该测试程序所设的一代码；最后，该代码被传送到该电子装置的显示器输出显示。
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