[发明专利]深沟渠式电容器及其制造方法无效
申请号: | 03156208.6 | 申请日: | 2003-09-04 |
公开(公告)号: | CN1591833A | 公开(公告)日: | 2005-03-09 |
发明(设计)人: | 蔡子敬;周士衷 | 申请(专利权)人: | 南亚科技股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/8242 | 分类号: | H01L21/8242;H01L21/82;H01L27/108 |
代理公司: | 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 寿宁;张华辉 |
地址: | 中国*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 本发明是关于一种深沟渠式电容器及其制造方法,其首先是提供一基底,且基底中已形成有一深沟渠,深沟渠底部已形成有一掺杂区,深沟渠底部的表面已形成有一电容介电层,而在电容介电层上已形成有一第一导电层。接着在未被第一导电层填覆盖的深沟渠侧壁形成一领氧化层。之后在深沟渠内形成一材料层,覆盖第一导电层且暴露出部分领氧化层。随后移除暴露出的领氧化层,而使基底暴露出来。之后移除材料层,并且在深沟渠内形成一第二导电层,覆盖第一导电层以及领氧化层。本发明仅需形成第二导电层,即可使电容器与主动元件电性连接,因此较现有的制程更为简单。 | ||
搜索关键词: | 深沟 电容器 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
1、一种深沟渠式电容器的制造方法,其特征在于其包括以下步骤:提供一基底,该基底中已形成有一深沟渠,且该深沟渠底部已形成有一掺杂区,该深沟渠底部的表面已形成有一电容介电层,在该电容介电层上已形成有一第一导电层;在未被该第一导电层填覆盖的该深沟渠侧壁处形成一领氧化层;在该深沟渠内形成一材料层,覆盖该第一导电层,而暴露出部分该领氧化层;移除被暴露出的该领氧化层,以使该深沟渠顶部侧壁处的该基底暴露出来;移除该材料层;以及在该深沟渠内形成一第二导电层,覆盖该第一导电层以及该领氧化层,且该第二导电层是与该深沟渠顶部侧壁处的该基底接触。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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